| 型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
| 測量原理 | 动态光散射法（光子相关法） |
| 光源 | 高功率半导体激光（660nm、70mW） *1 |
| 检出器 | 高感度APD |
| 连续测量 | 最多5个样品 |
| 测量范围 | 0.6nm ～ 10μm |
| 浓度范围 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 温度范围 | 0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3 |
| 样品容量 | 四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～ |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 电压 | 220V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 约18 kg |
| 软件 | 平均粒径解析（累积法解析） |
| 粒径分布解析 | |
| （Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法） | |
| 粒度分布重叠 | |
| 逆相关数 残差Plot | |
| 粒径监测 | |
| 粒径表示范围 （0.1 ～ 106 nm） | |
| 分子量计算机能 | |
| 21 CFR Part11对应*4 | |
| 选配 | 微量样品池（20μL开始対应）、荧光滤光片 |
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分析仪器
2026-02-26 10:3830询价
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 江苏苏州市付款后3天内 |
| 品牌 | 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA |
| 电压 | 220V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 18 kg |
| 测量范围 | 0.6nm ～ 10μm |
| 该产品库存不足 |
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