量测原理 | 反射分光法（光干涉法）、非破坏性量测 |
膜厚量测范围 | 1~50μm（显示上限60μm） |
重复精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
量测时间 | 1秒内 |
量测层数 | 1层 |
数据输出 | 附属操作屏幕显示或以USB输出Excel档案 |
量测Spot | Φ1mm以下 |
重量 | 约1.1kg |
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测量仪器
2026-02-26 10:3830询价
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 江苏苏州市付款后3天内 |
| 品牌 | Smart膜厚仪 |
| 重复精度 | 2.1σ 0.01μm（SiO2膜1μm） |
| 重测时间 | 1秒内 |
| 量测层数 | 1层 |
| 该产品库存不足 |
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