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测量仪器

 
 
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发货 江苏苏州市付款后3天内
品牌 相位差测量装置 RETS-100nx New
光源 100W halogen lamp
位相差测量范围 0~60,000nm
测量波长范围 400~800nm
过期 长期有效
更新 2026-02-26 10:38
 
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大塚电子有限公司

VIP   中级商铺第1年
资料未认证
保证金未缴纳
  • 江苏-苏州市
  • 上次登录 02-25 17:08
  • 大塚电子有限公司 (先生)  
详细说明

测量项目(薄膜、光学材料)

相位差(波长分散)、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等

测量项目(偏光片)

吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等

测量项目(液晶cell)

cell gap、预倾角*1 、扭曲角、配向角等

位相差测量范围

0~60,000nm

相位差重复性

3σ≦0.08nm(水晶波长板 约600nm)

cell gap 测量范围

0~600μm(Δn=0.1时)

cell gap 重复性

3σ≦0.005μm(cell gap 约3μm、Δn=0.1时)

轴检测重复性

3σ≦0.08°(水晶波长板 约600nm)

测量波长范围

400~800nm(其他可选)

检测器

多通道光谱仪

测量径

φ2㎜(标准规格)

光源

100W halogen lamp

数据处理部

个人计算机、显示器

样品台尺寸:标准

100㎜×100㎜(固定样品台)

option

·超高相位差测量
·多层测量
·轴角度补正功能
· 自动XY样品台·自动倾斜旋转样品台


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